溫度沖擊應力篩選試驗箱用途：
溫度沖擊快速溫變試驗箱對不同電子構件，在實際使用環境中遭遇的溫度條件，改變環境溫差范圍及急促升降溫度改變，可以提供更為嚴格測試環境，縮短測試時間，降低測試費用，但是必須要注意可能對材料測試造成額外的影響，產生非使用狀態的破壞試驗。(需把握在失敗機制依然未受影響的條件下)RAMP試驗條件標示為：Temperature Cycling 或Temperature Cycling Test也就是溫度循環(可控制斜率的溫度沖擊)
溫度沖擊應力篩選試驗箱特點：
1、可執行AMP（等均溫變）、三箱沖擊（TC）、兩箱沖擊（TS）、高溫儲存、低溫儲存功能；
2、等均溫速率賽思可設定范圍5℃～30℃/min(40℃/min)；
3、滿足無鉛制程、無鉛焊錫、錫須(晶須)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等試驗要求；
4、賽思采用美國Sporlan公司新型PWM冷控制技術實現低溫節能運行；
5、除霜周期三天除霜一次，賽思每次除霜只需1小時完成；
6、通信配置RS232接口和USB儲存曲線下載功能；
7、感測器放置測試區出（回）風口賽思設計符合實驗有效性；
8、機臺多處報警監測，配置無線遠程報警功能；
溫度沖擊應力篩選試驗箱技術優勢：
傳統設備低溫控制方式：制冷壓縮機啟停控制溫度（溫度波動大、嚴重影響壓縮機壽命，已淘汰的技術）制冷壓縮機恒定運行+加熱PID控制（導致制冷量與加熱相抵消實現溫度動態平衡，浪費了大量的電能）新型PWM冷控制技術實現低溫節能運行：低溫工作狀態，加熱器不參與工作，通過PWM技術控制調節制冷機組制冷劑流量和流向，對制冷管道、冷旁通管道、熱旁通管道三向流量調節，實現對工作室溫度的自動恒定。
溫度沖擊應力篩選試驗箱失效分析：
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TSR(斜率可控制)[5℃～30 ℃/min] |
30℃/min→ |
電子原件焊錫可靠度、PWB的嵌入電阻&電容溫度循環 MOTOROLA壓力傳感器溫度循環試驗 |
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28℃/min→ |
LED汽車照明燈 |
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25℃/min→ |
PCB的產品合格試驗、測試Sn-Ag焊劑在PCB疲勞效應 |
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24℃/min→ |
光纖連接頭 |
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20℃/min→ |
IPC－9701 、覆晶技術的極端溫度測試、GS-12-120、飛彈電路板溫度循環試驗 PCB暴露在外界影響的ESS 測試方法、DELL計算機系統&端子、改進導通孔系統信號 比較IC包裝的熱量循環和SnPb焊接、溫度循環斜率對焊錫的疲勞壽命 |
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17℃/min→ |
MOTO |
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15℃/min→ |
IEC 60749－25、JEDEC JESD22-A104B、MIL 、DELL液晶顯示器 電子組件溫度循環測試(家電、計算機、通訊、民用航空器、工業及交通工具、 汽車引擎蓋下環境) |
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11℃/min→ |
無鉛CSP產品溫度循環測試、芯片級封裝可靠度試驗(WLCSP) 、IC包裝和SnPb焊接、 JEDEC JESD22-A104-A |
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10℃/min→ |
通用汽車、 JEDEC JESD22-A104B-J、GR-1221-CORE 、 CR200315 、MIL JEDEC JESD22-A104-A-條件1 、溫度循環斜率對焊錫的疲勞壽命、 IBM-FR4板溫度循環測試 |
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5℃/min→
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錫須溫度循環試驗 |
溫度沖擊應力篩選試驗箱技術規格：
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型號 |
SER-A |
SER-B |
SER-C |
SER-D |
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內箱尺寸 |
40×35×35 |
50×50×40 |
60×50×50 |
70×60×60 |
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外箱尺寸 |
140×165×165 |
150×200×175 |
160×225×185 |
170×260×193 |
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溫度范圍 |
-80.00℃～+200.00℃ |
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低溫沖擊范圍 |
-10.00℃～-40℃//-55℃//-65.00℃ |
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高溫沖擊范圍 |
+60.00℃～+150.00℃ |
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時間設定范圍 |
0 hour 1 min ～ 9999 hour 59 min/segment |
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溫度波動度 |
≤1℃（≤±0.5℃，按GB/T5170-1996表示） |
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溫度偏差 |
≤±2℃（-65℃～+150℃） |
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溫度均勻度 |
＜2.00℃以內 |
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溫變速率（斜率） |
+5℃～+30℃/min(+40℃) |
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溫變范圍 |
-55℃～+85℃//+125℃ |
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